测试作为集成电路行业的关键技术之一，是行业相关从业人员必须要掌握的重点内容，随着芯片设计和制造技术向高集成化、小型化发展，深亚微米、人工智能等技术的日趋成熟给相应测试技术带来现实的挑战，既要提高测试效率又要降低测试成…

一、信号衰减输出部分设计 1.1增益测量时输入信号峰峰值选择 　　通过计算待测的共射放大电路在1kHz频率下的增益大约在100以上，这个增益会根据不同的管子呈现出细微的不同，我手头搭建的电路经过测试发现此时的增益达到了150，并且电路的静态工…

上一节介绍了基本的测试分类和测试流程，这一节主要讲一下我们常见的测试项目、测试计划以及测试程序。 IC常用测试项一般为 直流（DC）参数测试交流（AC）参数测试功能测试混合信号参数测试 DC参数测试包括的测试项一般有…

一般的集成电路芯片从设计到出货上板，基本流程可分为 电路设计→晶圆制造→晶圆测试→IC封装→封装后测试→出货，那么我们主要做的工作就是封装后测试。 这里的IC测试主要有两个目的：1、确认被测芯片是否符合手册上定义的规范 2、通过测试确定…

这篇文章主要讲一下芯片设计中测试环节以及相关的概念。芯片设计中的测试分为以下几类： 1）验证：在芯片量产之前，验证设计是否正确和符合规范。在验证时，主要进行功能测试和电气特性测试。功能测试是测试输入激励与响应…

集成电路测试的定义 集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 集成电路测试的基本原理 被测电路DUT(Device …

为什么半导体和IC测试设备需要升级？ 随着众多新的高性能应用的需求不断增加，信迈旨在为半导体集成电路测试设备领域的客户提供更好的方案。半导体和集成电路（IC）测试设备设计用于在一台测试机上同时对不同线路的数百个集成电路…

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